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NIDays 2012再掀測試測量領域新浪潮

記NIDays 2012 全球圖形化系統(tǒng)設計盛會中國站
2013-03-07
作者:王 偉
來源:來源:電子技術應用2013年第1期
關鍵詞: 測試測量

    2012年11月16日, 由美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)舉辦的一年一度的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設計盛會”中國站在北京萬達索菲特大飯店圓滿落幕。本屆NIDays吸引了近千名來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體到會,通過精心挑選的技術講座、最新的產(chǎn)品與創(chuàng)新應用展示、精彩的互動交流等環(huán)節(jié),向工程師們傳達了最新前沿技術信息以及NI在測試測量、控制和設計領域的應用革新。

NI東亞區(qū)副總裁Ajit Gokhale(左二)、
大中華區(qū)總經(jīng)理陳大龐(中)、
射頻與微波測試經(jīng)理Erik Johnson(右二)

    通過多年對NIDays的關注發(fā)現(xiàn),每屆NIDays盛會的主題都極具震撼力,無不揭示了當下測試測量、控制和設計領域的技術發(fā)展趨勢與市場動向,諸如“綠色應用 科技共享”、“超越 無限”、“創(chuàng)新 讓世界更美好”和“融匯成功 啟迪未來”。今年的NIDays則以“儀器 變革進行時”為主題,全面剖析了測試測量領域正在經(jīng)歷的一場劃時代的變革。
    回顧NI公司30多年來的發(fā)展史,NI持續(xù)不斷地為儀器行業(yè)注入革命性的理念。早在上世紀80年代,伴隨著LabVIEW的誕生, NI提出了“軟件就是儀器”的口號,開辟了“虛擬儀器”這一全新理念。1997年,NI發(fā)明了PXI,將模塊化儀器推向了全新發(fā)展紀元。今年,NI推出業(yè)內第一款矢量信號收發(fā)儀,將設計、測試和控制融入到統(tǒng)一的圖形化系統(tǒng)設計平臺之中,再一次重新定義了儀器。
    NI東亞區(qū)副總裁Ajit Gokhale先生、NI大中華區(qū)總經(jīng)理陳大龐先生以及NI射頻與微波測試經(jīng)理Erik Johnson先生出席了主題演講。在演講中,Ajit Gokhale和Erik Johnson都強調了如何通過儀器在測試測量行業(yè)延續(xù)摩爾定律。Erik Johnson指出:“ NI在過去15年推出的各種模塊化的儀器都在延續(xù)摩爾定律。我們努力將儀器變得更小,性能變得更高,同時不斷降低使用成本。本次發(fā)布的全球首款矢量信號收發(fā)儀VST依然延續(xù)了摩爾定律,并能夠將多款儀器融于一體,用軟件的方式創(chuàng)新性地設計儀器。”
    在主題演講和20余場技術講座中,來自NI的工程師們圍繞“面向二十一世紀的系統(tǒng)級設計”這一主題,向與會者全方位展示圖形化系統(tǒng)設計的優(yōu)勢,以及眾多本地客戶的最新應用和成功案例。與此同時,揭開數(shù)款革命性產(chǎn)品的神秘面紗,包括擁有全新的模板及項目范例的LabVIEW 2012,基于FPGA、軟件自定義、支持802.11ac和LTE/LTE-A測試的全球首款矢量信號收發(fā)儀(PXIe-5644R)以及用于高性能嵌入式測量與數(shù)據(jù)記錄應用的CompactDAQ獨立式機箱(cDAQ-9139)。

主題演講會場

    除此之外,題為LabVIEW編程技巧、自動化測試與測量、嵌入式控制與監(jiān)測、行業(yè)應用專題和射頻應用的五大專題活動和近50個熱門產(chǎn)品的應用展示,讓與會者了解了最新的測控技術趨勢和NI發(fā)布的最新產(chǎn)品,其應用涵蓋了汽車、電力能源到國防與航空航天等五大領域。
    作為已成功舉辦14屆的年度大型技術盛會,每一屆NIDays都能準確鎖定測試測量領域的新焦點,并圍繞這個焦點安排講座、產(chǎn)品展示和案例共享,讓與會者深感不虛此行。我們期待下一屆NIDays帶給大家更多的驚喜。

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