《電子技術(shù)應(yīng)用》
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國(guó)標(biāo)超高頻射頻識(shí)別產(chǎn)品符合性測(cè)試方法研究
2017年電子技術(shù)應(yīng)用第1期
王明磊,李 娟,黨 斌,蘇冠群
山東省標(biāo)準(zhǔn)化研究院,山東 濟(jì)南250014
摘要: 為開(kāi)展符合GB/T 29768-2013《信息技術(shù) 射頻識(shí)別 800/900 MHz空中接口協(xié)議》的超高頻射頻識(shí)別產(chǎn)品一致性測(cè)試工作,分析了該標(biāo)準(zhǔn)的主要技術(shù)指標(biāo)和測(cè)試需求,研究了測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)、測(cè)試步驟、數(shù)據(jù)分析等測(cè)試方法過(guò)程,開(kāi)展了符合我國(guó)超高頻射頻識(shí)別標(biāo)準(zhǔn)的電子標(biāo)簽及讀寫(xiě)器產(chǎn)品的符合性測(cè)試與分析,驗(yàn)證了測(cè)試指標(biāo)、測(cè)試方法的適用性,為開(kāi)展有關(guān)產(chǎn)品符合性測(cè)試提供了行之有效的方法依據(jù)。
中圖分類號(hào): TN710
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2017.01.027
中文引用格式: 王明磊,李娟,黨斌,等. 國(guó)標(biāo)超高頻射頻識(shí)別產(chǎn)品符合性測(cè)試方法研究[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2017,43(1):103-106,110.
英文引用格式: Wang Minglei,Li Juan,Dang Bin,et al. Research on China UHF RFID device conformance test methods[J].Application of Electronic Technique,2017,43(1):103-106,110.
Research on China UHF RFID device conformance test methods
Wang Minglei,Li Juan,Dang Bin,Su Guanqun
Shandong Institute of Standardization,Jinan 250014,China
Abstract: Aiming at China UHF RFID standard——GB/T 29768-2013 Information technology-radio frequency identification-air interface protocol at 800/900 MHz,the main technical indicators and corresponding test requirements of the standard are analyzed to develop the product conformance test. The test system architecture, test process and data analysis are studied to verify these indicators. Based on the above research, the practical conformance test of UHF RFID tags and readers is carried out. The applicability of the test indicators and test method are proved through the test which will be a beneficial reference for China UHF RFID devices conformance test.
Key words : UHF;RFID;air interface;conformance;test methods

0 引言

    射頻識(shí)別(RFID)技術(shù)是一種非接觸式的自動(dòng)識(shí)別技術(shù),根據(jù)工作頻率的不同,劃分為低頻(LF)、高頻(HF)、超高頻(UHF)、微波(MW)等不同類別。超高頻RFID工作在800/900 MHz無(wú)線電頻段,廣泛用于倉(cāng)儲(chǔ)、物流、追溯、防偽、安全等領(lǐng)域[1,2]

    我國(guó)在超高頻RFID技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范方面,繼無(wú)線電頻段規(guī)劃文件《800/900 MHz頻段射頻識(shí)別(RFID)技術(shù)應(yīng)用規(guī)定(試行)》于2007年公布后,包含自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 29768-2013《信息技術(shù) 射頻識(shí)別800/900 MHz空中接口協(xié)議》也于2014年5月1日開(kāi)始正式實(shí)施。該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了840 MHz~845 MHz和 920 MHz~925 MHz頻段射頻識(shí)別系統(tǒng)空中接口的物理層和媒體訪問(wèn)控制層參數(shù)以及協(xié)議工作方式[3]

    在政府引導(dǎo)和業(yè)內(nèi)產(chǎn)學(xué)研用各方面力量的共同推進(jìn)下,符合GB/T 29768標(biāo)準(zhǔn)的射頻識(shí)別電子標(biāo)簽和讀寫(xiě)器產(chǎn)品已陸續(xù)推出并得到應(yīng)用。隨著應(yīng)用規(guī)模的不斷擴(kuò)大,電子標(biāo)簽及讀寫(xiě)器產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的空口指標(biāo)、產(chǎn)品性能、可靠性等方面存在的質(zhì)量差異,導(dǎo)致應(yīng)用中出現(xiàn)識(shí)讀率低、讀取性能差、工作不穩(wěn)定等質(zhì)量問(wèn)題,最終影響終端用戶對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)的使用信心。通過(guò)開(kāi)展對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的測(cè)試和檢驗(yàn)工作,進(jìn)而促進(jìn)整體質(zhì)量水平提升,對(duì)維護(hù)產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)展有著極為重要的意義。

    RFID測(cè)試包括標(biāo)準(zhǔn)符合性、產(chǎn)品性能、環(huán)境適應(yīng)性、可靠性等方面。其中符合性測(cè)試用于驗(yàn)證RFID產(chǎn)品的通信相關(guān)技術(shù)指標(biāo)與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之間的符合性,是RFID產(chǎn)品互聯(lián)互通的最基本保證。

    超高頻電子標(biāo)簽與讀寫(xiě)器之間采用了無(wú)線電通信方式,這必然要求系統(tǒng)中的標(biāo)簽和讀寫(xiě)器都遵循相同的空中接口和通信協(xié)議,并保證空中接口的關(guān)鍵特性指標(biāo)和協(xié)議格式在標(biāo)準(zhǔn)要求的限值范圍之內(nèi),才能確保標(biāo)簽與讀寫(xiě)器之間的穩(wěn)定互聯(lián)互通[4-7]。

    目前, ISO/IEC 18000-6[8]是與GB/T 29768具有近似工作原理的超高頻RFID技術(shù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。但兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)在工作頻段、調(diào)制方式、數(shù)據(jù)編碼、前導(dǎo)碼、反向鏈接頻率、命令結(jié)構(gòu)、防碰撞算法等技術(shù)細(xì)節(jié)上,仍存在著較明顯差異。

    ISO/IEC 18047-6[9]是針對(duì)ISO/IEC 18000-6規(guī)定的空中接口、通信協(xié)議等技術(shù)指標(biāo)而提出的一系列測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn),主要從信號(hào)級(jí)、邏輯級(jí)以及通信級(jí)進(jìn)行分類測(cè)試。ISO/IEC 18047-6的測(cè)試方法對(duì)于開(kāi)展GB/T 29768產(chǎn)品的測(cè)試工作具有一定的參考價(jià)值,但全盤照搬也是明顯不可行的。

    為此,本文重點(diǎn)分析了GB/T 29768的主要技術(shù)指標(biāo)和測(cè)試需求,研究了測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)、測(cè)試步驟、數(shù)據(jù)分析等測(cè)試方法過(guò)程,開(kāi)展了實(shí)際測(cè)試驗(yàn)證分析,以期為符合我國(guó)超高頻國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的RFID產(chǎn)品的符合性測(cè)試提供參考。

1 測(cè)試指標(biāo)分析

    超高頻RFID電子標(biāo)簽與讀寫(xiě)器之間為雙向無(wú)線通信,對(duì)于該類產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試工作,是在采集標(biāo)簽和讀寫(xiě)器之間通信信號(hào)的基礎(chǔ)上,從中測(cè)量得到空中接口和通信協(xié)議關(guān)鍵指標(biāo)的實(shí)際值,并與標(biāo)準(zhǔn)中的約定值進(jìn)行比較和判別的過(guò)程。

    作為測(cè)試方法研究的基礎(chǔ),根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求,從GB/T 29768標(biāo)準(zhǔn)中提取了16項(xiàng)讀寫(xiě)器到電子標(biāo)簽的物理層和媒體訪問(wèn)控制層的關(guān)鍵指標(biāo),以及10項(xiàng)電子標(biāo)簽到讀寫(xiě)器的物理層和媒體訪問(wèn)控制層的關(guān)鍵指標(biāo),作為檢測(cè)方法制定的最基本依據(jù)。主要測(cè)試指標(biāo)見(jiàn)表1。

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2 測(cè)試方法

2.1 測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)

    超高頻RFID技術(shù)采用了“讀寫(xiě)器先講”和“載波調(diào)制”的半雙工交互通信模型,即:讀寫(xiě)器在發(fā)出命令后,持續(xù)發(fā)送未調(diào)制的射頻載波,標(biāo)簽從讀寫(xiě)器發(fā)送的射頻載波中獲得工作能量,并將標(biāo)簽對(duì)讀寫(xiě)器命令的響應(yīng)數(shù)據(jù)使用反相散射方式調(diào)制在載波信號(hào)上,將結(jié)果反饋給讀寫(xiě)器。這意味著,在測(cè)試工作中,單獨(dú)的被測(cè)品將不能完成通信的全過(guò)程,需要使用激勵(lì)/應(yīng)答設(shè)備與被測(cè)品之間配合建立完整的交互通信。各項(xiàng)空中接口參數(shù)的測(cè)量?jī)x器則處于監(jiān)聽(tīng)位置,采集和記錄標(biāo)簽與讀寫(xiě)器之間的通信信號(hào),從中測(cè)量出需要的指標(biāo)。

    根據(jù)以上思路,給出測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)設(shè)計(jì)如圖1所示。測(cè)試天線、RFID標(biāo)簽、RFID讀寫(xiě)器天線的中心處于同一直線上,即天線之間應(yīng)處于最佳耦合;標(biāo)簽與讀寫(xiě)器之間的距離d2應(yīng)滿足天線遠(yuǎn)場(chǎng)條件,此距離應(yīng)大于3倍的超高頻RFID工作頻率的無(wú)線電波波長(zhǎng);測(cè)試天線和讀寫(xiě)器天線分別放置于被測(cè)標(biāo)簽的兩側(cè),以盡量減小測(cè)試天線接收到的讀寫(xiě)波信號(hào)幅度,避免大幅度的載波信號(hào)影響測(cè)量?jī)x器對(duì)于小幅度的標(biāo)簽反向散射信號(hào)的辨識(shí);標(biāo)簽到測(cè)試天線的距離d1的確定,以獲取盡量大幅度的標(biāo)簽反相散射信號(hào)為宜。

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    由于在GB/T 29768標(biāo)準(zhǔn)要求的工作頻段附近,分布著手機(jī)、對(duì)講機(jī)、集群通信等較大功率的無(wú)線電信號(hào),為避免環(huán)境電磁干擾對(duì)測(cè)量工作的干擾和對(duì)測(cè)試準(zhǔn)確性的影響,以上采用輻射監(jiān)聽(tīng)方式的測(cè)試系統(tǒng),應(yīng)在滿足工作距離要求的電波暗室或屏蔽箱內(nèi)進(jìn)行。測(cè)試環(huán)境的環(huán)境噪聲指標(biāo)應(yīng)達(dá)到0.5 GHz~2 GHz,在10 kHz帶寬測(cè)量的噪聲幅值的最大值為-60 dB;標(biāo)簽反向散射的主信號(hào)頻率周圍噪聲幅值的最大值為-90 dB。

    相比常規(guī)方式,本架構(gòu)還做了以下優(yōu)化:

    (1)綜合測(cè)試儀選用混合域示波器。相比常規(guī)無(wú)線電測(cè)試系統(tǒng)中使用頻譜分析儀、示波器和矢量信號(hào)分析儀來(lái)分別采集和測(cè)量不同特性的指標(biāo),混合域示波器既能夠滿足超高頻RFID測(cè)試中對(duì)于頻域特性、時(shí)域特性和調(diào)制域特性等數(shù)據(jù)的采集要求,同時(shí)減少了多臺(tái)儀器之間的協(xié)同成本及系統(tǒng)的建設(shè)成本。

    (2)使用標(biāo)準(zhǔn)讀寫(xiě)器或標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)簽作為被測(cè)標(biāo)簽的激勵(lì)/應(yīng)答設(shè)備。通過(guò)分析被測(cè)品在測(cè)試過(guò)程中的激勵(lì)和應(yīng)答要求,確定這些要求均在標(biāo)準(zhǔn)約定的參數(shù)范圍之內(nèi)。因此,這樣的架構(gòu)并不會(huì)影響測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試靈活性和覆蓋范圍。同時(shí),相比常規(guī)無(wú)線電測(cè)試系統(tǒng)中使用矢量信號(hào)發(fā)生器作為激勵(lì)/應(yīng)答設(shè)備的方式,極大降低了測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)成成本和復(fù)雜程度,具有更好的可實(shí)現(xiàn)性。

2.2 RFID電子標(biāo)簽測(cè)試系統(tǒng)

    被測(cè)品為RFID電子標(biāo)簽時(shí),按圖1構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)。被測(cè)標(biāo)簽置于測(cè)試天線與讀寫(xiě)器天線的中間位置;標(biāo)準(zhǔn)讀寫(xiě)器使用預(yù)先通過(guò)測(cè)試、符合GB/T 29768標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)要求的普通RFID讀寫(xiě)器。標(biāo)準(zhǔn)讀寫(xiě)器應(yīng)能夠在測(cè)試軟件控制下單獨(dú)發(fā)出測(cè)試所需要的讀寫(xiě)器命令或命令組合,從而控制讀寫(xiě)器的工作頻率、調(diào)制方式和定時(shí)參數(shù)。

2.3 RFID讀寫(xiě)器測(cè)試系統(tǒng)

    在被測(cè)品為RFID讀寫(xiě)器時(shí),同樣基于圖1的測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu),但圖1中被測(cè)RFID標(biāo)簽的位置替換為標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)簽,即預(yù)先通過(guò)測(cè)試并符合GB/T 29768標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)要求的普通超高頻RFID電子標(biāo)簽,而被測(cè)讀寫(xiě)器則放置于原標(biāo)準(zhǔn)讀寫(xiě)器的位置。

2.4 測(cè)試步驟

    在按照?qǐng)D1構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)后,對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)中不同參數(shù)的測(cè)試,其測(cè)試操作步驟基本一致,區(qū)別僅在于采集和測(cè)量的參數(shù)不同。以標(biāo)簽?zāi)骋粎?shù)的測(cè)試為例,其基本測(cè)試步驟為:(1)連接測(cè)試系統(tǒng);(2)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)讀寫(xiě)器的參數(shù),使其符合測(cè)試項(xiàng)目需要的參數(shù)配置;(3)標(biāo)準(zhǔn)讀寫(xiě)器發(fā)送單個(gè)的啟動(dòng)查詢命令或命令組合;(4)設(shè)置測(cè)量?jī)x器參數(shù),使其工作到相應(yīng)的信號(hào)分析模式;(5)等待測(cè)量?jī)x器觸發(fā),采集通信過(guò)程射頻信號(hào);(6)分析采集到的信號(hào),檢查被測(cè)標(biāo)簽是否正確響應(yīng)讀寫(xiě)器命令;(7)從采集到的信號(hào)中,測(cè)量和計(jì)算得到測(cè)試項(xiàng)目的值;(8)循環(huán)執(zhí)行步驟(2)~步驟(7),使測(cè)試覆蓋被測(cè)品的每一種可能的工作情況(如不同的工作頻點(diǎn)、不同的定時(shí)參數(shù)等)。

3 實(shí)際測(cè)試驗(yàn)證分析

    基于上述方法,對(duì)超高頻電子標(biāo)簽及讀寫(xiě)器進(jìn)行了實(shí)際測(cè)試,采集到讀寫(xiě)器與標(biāo)簽之間通信過(guò)程的射頻信號(hào)時(shí)/頻混合域波形如圖2所示。

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    對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)通信過(guò)程的約定,圖2上半部的時(shí)域波形可以分為:開(kāi)載波(A)、讀寫(xiě)器命令(B)、標(biāo)簽應(yīng)答(C)和關(guān)載波(A′)四段。對(duì)其分析測(cè)量可獲取讀寫(xiě)器到標(biāo)簽、標(biāo)簽到讀寫(xiě)器的空中接口和協(xié)議的關(guān)鍵參數(shù)指標(biāo)。工作頻率、占用信道帶寬、信道中心頻率、臨道泄露比、最大發(fā)射功率ERP、帶外雜散發(fā)射等頻域指標(biāo),則從圖2下半部分的頻譜圖中測(cè)得。整體的測(cè)量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)進(jìn)行比對(duì)分析,判斷空口和協(xié)議是否符合GB/T 29768的規(guī)定,即標(biāo)準(zhǔn)符合性。

3.1 讀寫(xiě)器到標(biāo)簽的參數(shù)指標(biāo)驗(yàn)證分析

    分析、測(cè)量圖2中的A、A′、B段,可得到讀寫(xiě)器到標(biāo)簽的參數(shù)指標(biāo)。

    (1)圖2中的A段是讀寫(xiě)器打開(kāi)載波時(shí)的射頻信號(hào)包絡(luò),可以從信號(hào)包絡(luò)上測(cè)量包絡(luò)上升時(shí)間、穩(wěn)定時(shí)間、紋波過(guò)沖和紋波欠沖等參數(shù)(Int:8);

    (2)信號(hào)的A′段是讀寫(xiě)器關(guān)閉載波時(shí)的射頻信號(hào)包絡(luò),可以從信號(hào)包絡(luò)上測(cè)量包絡(luò)下升時(shí)間、紋波過(guò)沖、紋波欠沖和關(guān)閉載波時(shí)的射頻信號(hào)電平等參數(shù)(Int:8);

    (3)信號(hào)的B段是讀寫(xiě)器發(fā)送命令時(shí)的射頻信號(hào)包絡(luò),放大后如圖3所示。分析得到:

    ①對(duì)照GB/T29768中對(duì)讀寫(xiě)器前導(dǎo)碼和數(shù)據(jù)編碼的約定,可以從時(shí)域波形中識(shí)別出前導(dǎo)碼的位置和解碼出數(shù)據(jù)流;

    ②對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)GB/T29768中的讀寫(xiě)器命令集,可以解析出讀寫(xiě)器命令,以及“讀寫(xiě)器兩個(gè)命令之間的時(shí)間間隔”;

    ③從波形中測(cè)量時(shí)間間隔和包絡(luò)幅度數(shù)值,加以計(jì)算和比對(duì),即可驗(yàn)證表1中的以下指標(biāo)的符合性:讀寫(xiě)器到標(biāo)簽的射頻信號(hào)包絡(luò)(Int:9)、數(shù)據(jù)編碼(Int:13)、前導(dǎo)碼(Int:14)、數(shù)據(jù)傳輸順序(Int:15)、讀寫(xiě)器命令(Int:16)。

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3.2 標(biāo)簽到讀寫(xiě)器的參數(shù)指標(biāo)驗(yàn)證分析

    信號(hào)的C段是標(biāo)簽反向散射命令應(yīng)答時(shí)的射頻信號(hào)包絡(luò),放大后如圖4。具體分析如下:

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    (1)對(duì)照GB/T 29768中對(duì)標(biāo)簽數(shù)據(jù)編碼的約定,可以從標(biāo)簽反向散射時(shí)域波形中識(shí)別FM0前導(dǎo)碼的位置和解碼出響應(yīng)數(shù)據(jù);

    (2)圖4中讀寫(xiě)器命令與標(biāo)簽響應(yīng)之間的時(shí)間間隔T1,對(duì)應(yīng)了GB/T 29768中規(guī)定的“從讀寫(xiě)器發(fā)送命令結(jié)束到標(biāo)簽發(fā)送響應(yīng)數(shù)據(jù)包的時(shí)間”;

    (3)圖4中標(biāo)簽響應(yīng)與下一個(gè)讀寫(xiě)器命令之間的時(shí)間間隔T2,對(duì)應(yīng)了GB/T 29768中規(guī)定的“從標(biāo)簽發(fā)送響應(yīng)數(shù)據(jù)包結(jié)束到讀寫(xiě)器發(fā)送下一條命令的時(shí)間”;

    (4)從波形中測(cè)量時(shí)間間隔和包絡(luò)幅度數(shù)值,加以計(jì)算和比對(duì),即可驗(yàn)證表1中的以下指標(biāo)的符合性:副載波調(diào)制(Tag:5)、(Tag:6)、數(shù)據(jù)編碼(Tag:7)、反向鏈路頻率(Tag:8)、前導(dǎo)碼(Tag:9)、數(shù)據(jù)傳輸順序(Tag:10)、命令響應(yīng)、占空比(Tag:11)。

4 結(jié)論

    本文通過(guò)分析國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 29768-2013《信息技術(shù) 射頻識(shí)別 800/900MHz空中接口協(xié)議》的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo),提出了一種低成本、易實(shí)現(xiàn)的測(cè)試系統(tǒng),給出了測(cè)試方法及測(cè)試步驟。并通過(guò)實(shí)際測(cè)試,詳細(xì)驗(yàn)證了測(cè)試方法的有效性、準(zhǔn)確性,為開(kāi)展符合我國(guó)超高頻射頻識(shí)別標(biāo)準(zhǔn)的電子標(biāo)簽、讀寫(xiě)器產(chǎn)品的符合性測(cè)試提供了行之有效的參考。

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作者信息:

王明磊,李  娟,黨  斌,蘇冠群

(山東省標(biāo)準(zhǔn)化研究院,山東 濟(jì)南250014)

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