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【熱門(mén)活動(dòng)】2025年基礎(chǔ)電子測(cè)試測(cè)量方案培訓(xùn)

【熱門(mén)活動(dòng)】2025年基礎(chǔ)電子測(cè)試測(cè)量方案培訓(xùn)

2025年基礎(chǔ)電子測(cè)試測(cè)量方案培訓(xùn)，第一課：數(shù)字萬(wàn)用表實(shí)操基礎(chǔ) ；第二課：直流電源與信號(hào)源操作；第三課：示波器基礎(chǔ)操作；第四課：示波器進(jìn)階與儀器聯(lián)動(dòng)

SPI串行Data Flash在MEMS姿態(tài)測(cè)量系統(tǒng)中的應(yīng)用

基于MEMS傳感器的姿態(tài)測(cè)量系統(tǒng)以體積小、功耗低、實(shí)時(shí)性好、方便使用等優(yōu)點(diǎn)而得到廣泛應(yīng)用，傳感器信息除用于實(shí)時(shí)處理進(jìn)行姿態(tài)解算以外，更需要長(zhǎng)時(shí)間保存以達(dá)到校對(duì)、仿真、數(shù)值分析等多種用途。針對(duì)大容量存儲(chǔ)在實(shí)際使用中疑難較多的問(wèn)題，主要介紹了大容量Flash存儲(chǔ)器AT45DB321D在姿態(tài)測(cè)量系統(tǒng)中的應(yīng)用，描述了其基本性能及在姿態(tài)測(cè)量系統(tǒng)中的硬件連接和軟件設(shè)計(jì)，重點(diǎn)討論了利用單片機(jī)I/O接口模擬SPI操作以及操作指令的具體實(shí)現(xiàn)等問(wèn)題。

發(fā)表于：10/16/2013

垃圾填埋場(chǎng)土工膜破裂滲漏電壓差分矢量測(cè)試法

提出一種垃圾填埋場(chǎng)土工膜滲漏快速檢測(cè)方法，包括測(cè)試小車(chē)上配套的測(cè)試探極、信號(hào)處理電路、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、GPS定位裝置、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)分析與模型建立系統(tǒng)；測(cè)試探極通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)和高壓（1 000 V）信號(hào)源正極，高壓（1 000 V）信號(hào)源的負(fù)極直接連接高壓電極，在垃圾場(chǎng)內(nèi)形成高壓直流電場(chǎng)，采用電壓場(chǎng)多維矢量分析。該方法無(wú)需對(duì)垃圾填埋場(chǎng)大規(guī)模翻土或大量鋪設(shè)檢測(cè)電極，且不同于平面電壓場(chǎng)分析法，可對(duì)滲漏點(diǎn)快速定向定位搜索，從而提高檢測(cè)效率、降低勞動(dòng)強(qiáng)度。

發(fā)表于：10/15/2013

泛華恒興1553B通信卡新增PCI系列

致力于為各行業(yè)用戶(hù)提供高品質(zhì)測(cè)試測(cè)量解決方案和成套檢測(cè)設(shè)備的北京泛華恒興科技有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)：泛華恒興）近日發(fā)布了PS PCI-3530（S）PCI雙（單）通道1553B【1】通信卡。 PS PCI-3530（S）是基于MIL-STD-1553B航電總線(xiàn)通信協(xié)議研發(fā)的一款PCI總線(xiàn)的仿真測(cè)試通信類(lèi)板卡，進(jìn)一步豐富了泛華1553B通信類(lèi)模塊產(chǎn)品。

發(fā)表于：10/14/2013

福祿克Ti125紅外熱像儀和CNX無(wú)線(xiàn)測(cè)試工具榮獲美國(guó)《顧問(wèn)與規(guī)范工程師》雜志年度產(chǎn)品獎(jiǎng)

來(lái)自美國(guó)華盛頓州埃弗雷特市消息，2013 年 10 月 10 日——Fluke® Ti125紅外熱像儀和CNX?無(wú)線(xiàn)測(cè)試工具被《Consulting-Specifying Engineer》(《顧問(wèn)與規(guī)范工程師》)雜志評(píng)為年度最佳產(chǎn)品，分別榮獲測(cè)試儀器儀表、數(shù)據(jù)記錄儀類(lèi)別的金獎(jiǎng)和銅獎(jiǎng)。

發(fā)表于：10/14/2013

意法半導(dǎo)體(ST)的MEMS加速度計(jì)芯片獲Brain Sentry新撞擊傳感器采用

橫跨多重電子應(yīng)用領(lǐng)域、全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體供應(yīng)商意法半導(dǎo)體（STMicroelectronics，簡(jiǎn)稱(chēng)ST；紐約證券交易所代碼：STM）宣布，剛剛上市的Brain Sentry撞擊傳感器?（Brain Sentry Impact Sensor?）采用意法半導(dǎo)體的MEMS加速度計(jì)，監(jiān)測(cè)可能導(dǎo)致腦震蕩或其它腦損傷的頭部撞擊事故。

發(fā)表于：10/12/2013

安捷倫全自動(dòng)在線(xiàn)測(cè)試解決方案能夠提高生產(chǎn)效率安捷倫系統(tǒng)縮減生產(chǎn)空間并改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量

2013 年10 月11 日，北京——安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布推出全自動(dòng)Medalisti3070 系列5i 在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用緊湊型機(jī)箱，占地面積比傳統(tǒng)的3070 系統(tǒng)減少33%。

發(fā)表于：10/11/2013

新型DASMON監(jiān)測(cè)系統(tǒng)提高芯片制造廠(chǎng)處理大量數(shù)據(jù)的性能

? 新版本能夠監(jiān)測(cè)擁多達(dá)200個(gè)服務(wù)器系統(tǒng)的設(shè)備平臺(tái) ? DASMON可監(jiān)測(cè)使用端廢氣處理系統(tǒng)

發(fā)表于：10/11/2013

安捷倫藍(lán)牙射頻一致性測(cè)試系統(tǒng)入選 AT4 Wireless 項(xiàng)目

2013 年10 月10 日，北京――安捷倫科技公司（NYSE: A）日前宣布，AT4 Wireless 公司位于西班牙馬拉加的藍(lán)牙認(rèn)證測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，通過(guò)引進(jìn)AgilentT1111S 藍(lán)牙® 射頻一致性測(cè)試系統(tǒng)，現(xiàn)已完成升級(jí)。

發(fā)表于：10/11/2013

泰克推出BroadR-Reach PHY自動(dòng)一致性測(cè)試解決方案

中國(guó)北京，2013年10月08日–全球示波器市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)廠(chǎng)商—泰克公司日前宣布，推出一種用于BroadR-Reach® PHY一致性測(cè)試的“單機(jī)式”解決方案。用于泰克示波器的新選項(xiàng)BRR可自動(dòng)化BroadR-Reach一致性測(cè)試要求的所有測(cè)試，較之手動(dòng)測(cè)試可為使用者節(jié)省多達(dá)90%的測(cè)試時(shí)間。

發(fā)表于：10/9/2013

RIGOL 舉辦DSG3000系列射頻信號(hào)源有獎(jiǎng)免費(fèi)體驗(yàn)活動(dòng)

電子測(cè)量?jī)x器先進(jìn)技術(shù)的領(lǐng)先企業(yè)普源精電公司（RIGOL）宣布，將于2013年10月8日---12月31日期間，舉辦DSG3000系列射頻信號(hào)源有獎(jiǎng)免費(fèi)體驗(yàn)活動(dòng)（報(bào)名網(wǎng)址：http://cn.rigol.com/news/maketing/DSG3000_TryIt.html ）

發(fā)表于：10/9/2013

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