惠瑞捷推出半導體行業(yè)首創(chuàng)可擴展測試機臺系列 -V93000 Smart Scale平臺,降低新一代 IC 的測試成本

　　Advantest 集團（東京證券交易所：6857；紐約證券交易所：ATE）旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴展、高性價比的測試機臺系列，可用來測試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構的芯片。 　 　　Smart Scale 系列是具備先進通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測試機臺，與惠瑞捷久經大生產考驗的 V93000 平臺完全相容。智能測試意味著每個通道卡具有獨立的時鐘域，通過匹配受測器件的準確數據率要求，實現全面的測試覆蓋率。配合電源調制、抖動注入和協(xié)議通訊等其他重要特性，系統(tǒng)級壓力測試如今可在 ATE 層執(zhí)行，提高了故障模型覆蓋范圍。 　 　　“憑借我們創(chuàng)新的 V93000 Smart Scale系列的測試系統(tǒng)和通道卡，惠瑞捷在智能測試解決方法方面取得領先，這些方法提供了定制的解決方案，可以為客戶降低測試成本?！盇dvantest 集團旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng) (SOC) 測試部執(zhí)行副總裁)表示。 　 　　四個等級的 Smart Scale 測試機臺（A類、C類、S類 和 L類）分別有不同的測試頭尺寸，使惠瑞捷可為每個客戶提供最高效的特定應用解決方案

發(fā)表于：2011/8/2 9:41:00