123,123

用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试（英文） keithley 4 2010-01-21

標(biāo)簽：通用电子测量

用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试（中文） keithley 21 2010-01-21

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用于NBTI测试的ACS集成测试系统（英文） keithley 3 2010-01-21

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用微分电导测量分析纳米级器件（英文） keithley 5 2010-01-21

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用微分电导测量分析纳米级器件（中文） keithley 11 2010-01-21

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用吉时利2400系列源表测试电池放电/充电周期（英文） keithley 11 2010-01-21

標(biāo)簽：通用电子测量

用2602数字源表对激光二极管模块和VCSEL进行高吞吐率DC生产测试（英文） keithley 2 2010-01-21

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用2600系列数字源表进行高亮度、可见光LED的生产测试（英文） keithley 4 2010-01-21

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用2600系列数字源表进行二极管生产测试（英文） keithley 3 2010-01-21

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用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试（英文） keithley 1 2010-01-21

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用2430C 1kW脉冲源表进行大电流变阻器生产测试（英文） keithley 9 2010-01-21

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用2420测量光伏电池的I-V特性（英文） keithley 12 2010-01-21

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用2400系列数字源表进行二极管生产测试 – QuikBASIC例程（英文） keithley 2 2010-01-21

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用2400系列数字源表进行二极管生产测试（英文） keithley 3 2010-01-21

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用2400系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试（英文） keithley 2 2010-01-21

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用2400数字源表验证变阻器（英文） keithley 2 2010-01-21

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用2400数字源表进行热敏电阻生产测试（英文） keithley 3 2010-01-21

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用2400配置电阻网络的生产测试系统（英文） keithley 1 2010-01-21

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用2400和7001进行GMR头生产测试（英文） keithley 3 2010-01-21

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用2000系列DMM和7001/7002开关系统优化开关/读速率（英文） keithley 1 2010-01-21

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