基于JTAG的高效调试系统设计与实现
所屬分類：技术论文
上傳者：zhoubin333
文檔大小：3530 K
標(biāo)簽： 调试系统 JTAG接口 IEEE1149.1
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文檔介紹：为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法，提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法。该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上，简化片内调试硬件模式设计，以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计，不仅实现了调试中断、指令/数据断点设置、单步执行及寄存器/存储器数据读写等基本调试功能，还支持现场保护与恢复、Trace Buffer、指令插入执行等高级调试功能。经实际芯片测试证明，该调试系统具有兼容JTAG协议、功能全面、灵活高效、结构简单、便于操作等特点。
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