基于IEEE P1500芯核測(cè)試控制結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
所屬分類：技術(shù)論文
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文檔介紹：討論了IEEE P1500測(cè)試架構(gòu)，詳細(xì)分析并實(shí)現(xiàn)了IP核的測(cè)試環(huán)（Wrapper）結(jié)構(gòu)，給出了一種支持該標(biāo)準(zhǔn)的芯片級(jí)測(cè)試控制結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)能控制基于總線結(jié)構(gòu)的 TAM以及P1500 Wrapper，通過(guò)芯片級(jí)CTAP控制器，支持串行或并行測(cè)試訪問(wèn)，實(shí)現(xiàn)了核內(nèi)測(cè)試以及核間互連測(cè)試。同時(shí)該結(jié)構(gòu)只需5根額外測(cè)試管腳。
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