提高TMS320LF2407A內部A/D采樣精度和范圍的方法
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
文檔大小：233 K
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文檔介紹：一種提高TMS320LF2407A內部A/D采樣精度和采樣范圍的方法。該方法解決了內部A/D的采樣幅值為0～3.3V的瓶頸，并采用TMS320LF2407A內部A/D的兩個獨立的模擬轉換通道的排序器SEQ1和SEQ2對采樣對象進行分離，在不影響采樣速率的情況下提高A/D的采樣精度。
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