使用吉時(shí)利最新3732型高密度矩陣卡進(jìn)行低電平接觸電阻(LLCR)針腳插槽測試
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上傳者：keithley
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文檔介紹：吉時(shí)利最新3732型超高密度、高速干簧式繼電器矩陣開關(guān)，完美搭配其3700系列數(shù) 據(jù)采集系統(tǒng)，充分滿足高密度連接的多樣化需求。 如今的計(jì)算機(jī)處理器（CPU）比以往的計(jì)算機(jī)處理器有很大進(jìn)步?，F(xiàn)在的CPU比從前 需要更高的功率，更低的工作電壓以及擁有更多的針腳。同時(shí)，它們還能直接插入 CPU插槽，無需焊接。由于拉電流很大，如果CPU和插槽的接觸電阻過大就會產(chǎn)生較 大的壓降和熱量，使CPU無法正常工作。因此，關(guān)鍵要讓接觸電阻值最小。為了達(dá) 到這一要求，必須全面測試插槽。測試插槽通常采用低電平接觸電阻（LLCR）測試 的形式。 在LLCR測試中，使用低電平信號測量一組觸點(diǎn)的電阻值。在測試中，向被測觸點(diǎn)組 施加1nA~100mA范圍的電流并測量產(chǎn)生的壓降。由于這些觸點(diǎn)的電阻值很小，所產(chǎn) 生的壓降通常也很?。ㄔ谖⒎秶鷥?nèi)），因此需要高質(zhì)量電壓表才能獲取準(zhǔn)確讀 數(shù)。 LLCR測試在CPU插槽上進(jìn)行：在插槽上插入內(nèi)插板然后測量插槽中各組針腳之間的 電阻值。內(nèi)插板建立了經(jīng)過多個觸點(diǎn)的通路，因此測量的電阻值是各個針腳的接觸 電阻之和。然后，總的接觸電阻值除以通路上的觸點(diǎn)數(shù)量即為接觸電阻平均值。期 望的接觸電阻典型值低于17~20mΩ/觸點(diǎn)。
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