CPLD器件測(cè)試系統(tǒng)
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：以Lattice公司的ispLSI1032E為被測(cè)對(duì)象，設(shè)計(jì)出一套測(cè)試裝置，對(duì)該芯片的性能指標(biāo)和可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行測(cè)試。本裝置只需配置三次電路和施加相應(yīng)的測(cè)試向量就能對(duì)芯片進(jìn)行全面的測(cè)試，提高了測(cè)試效率，實(shí)用價(jià)值很高。
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