頭條 基于LSTM模型的智能服務(wù)治理方案研究與實踐 為解決航空公司網(wǎng)站在訪問量大幅波動時容易導(dǎo)致系統(tǒng)異常、難以快速進行治理的問題，以Spring Cloud微服務(wù)治理框架為基礎(chǔ)，融入長短期記憶（LSTM）模型對系統(tǒng)指標進行分析與預(yù)測，結(jié)合云原生架構(gòu)，提出了一種基于LSTM模型的智能服務(wù)治理方案。利用LSTM對歷史指標數(shù)據(jù)進行訓(xùn)練并輸出預(yù)測模型，實現(xiàn)對于指標的趨勢預(yù)測；結(jié)合云原生基礎(chǔ)設(shè)施，生成基于預(yù)測結(jié)果的主動式水平容器組自動伸縮器，實現(xiàn)資源預(yù)伸縮；根據(jù)指標預(yù)測結(jié)果與變化趨勢自動下發(fā)與回收治理策略，實現(xiàn)智能化的流量治理。實踐表明，該方案能根據(jù)模型預(yù)測結(jié)果提前做好資源擴縮容與服務(wù)治理，有效規(guī)避系統(tǒng)風(fēng)險。 最新視頻 【視頻】Kintex-7 FPGA DSP套件高速模擬演示 Kintex-7 FPGA DSP套件是賽靈思與安富利共同開發(fā)的搭配高速模擬信號處理針對DSP領(lǐng)域的目標設(shè)計平臺，?？蓱?yīng)用于高性能信號處理應(yīng)用的開發(fā)。 發(fā)表于：2012/2/20 【視頻】賽靈思Kintex-7 FPGA DDR3接口性能演示 該視頻演示了Kintex-7 FPGA的DDR3內(nèi)存的接口性能 發(fā)表于：2012/2/20 【視頻】采用賽靈思設(shè)計平臺的ADI FMC模塊演示 采用賽靈思設(shè)計平臺的ADI FMC模塊演示 發(fā)表于：2012/2/20 【視頻】賽靈思獨特的靈活混合信號（AMS）在KC705評估板上的演示 靈活混合信號（AMS）評估卡可以支持兩種不同的模擬信號源。AMS模擬接口功能目前已經(jīng)應(yīng)用與所有賽靈思28nm器件中，以支持通用模擬集成。 發(fā)表于：2012/2/20 【視頻】TI Hercules 安全微控制器（二） TI Hercules 平臺專門設(shè)計用于 IEC 61508 和 ISO 26262 安全關(guān)鍵型應(yīng)用，可提供高級的集成安全功能，同時提供可擴展的性能、連接和內(nèi)存選項。Hercules 安全微處理器平臺包括三個基于 ARM Cortex 的微處理器系列：TMS470M、TMS570 和 RM4x。本系列視頻來自TI微控制器新產(chǎn)品技術(shù)研討會現(xiàn)場演講。 發(fā)表于：2012/2/17 【視頻】如何找到TI提供的DSP開發(fā)工具 以達芬奇系列的DM6446為例，介紹TI提供的資源和資料，并且告訴大家遇到問題的時候可以到哪里去找相應(yīng)的資源和答案。 發(fā)表于：2012/2/17 【視頻】TI Hercules 安全微控制器（一） TI Hercules 平臺專門設(shè)計用于 IEC 61508 和 ISO 26262 安全關(guān)鍵型應(yīng)用，可提供高級的集成安全功能，同時提供可擴展的性能、連接和內(nèi)存選項。Hercules 安全微處理器平臺包括三個基于 ARM Cortex 的微處理器系列：TMS470M、TMS570 和 RM4x。本系列視頻來自TI微控制器新產(chǎn)品技術(shù)研討會現(xiàn)場演講。 發(fā)表于：2012/2/10 【視頻】高性能DSP上的串行RapidIO接口 高性能 DSP 上的串行 RapidIO 接口，串行RapidIO接口是業(yè)界新的國際標準，它是針對高性能嵌入式系統(tǒng)芯片間和板間互連而設(shè)計的。以前的嵌入式系統(tǒng)內(nèi)互聯(lián)往往采用PCI，以太網(wǎng)或自定義總線，RapidIO標準利用了現(xiàn)有標準的優(yōu)點，克服了它們?nèi)秉c，在芯片間和板間互連給用戶提供了更好的選擇。 發(fā)表于：2012/2/10 【視頻】電源設(shè)計小貼士 13：小心別被電感磁芯損耗燙傷 您是否有過為降壓穩(wěn)壓器充電、進行滿功率測試，隨后在進行電感指端溫度測試時留下了永久（燙傷）印記的經(jīng)歷呢？或許過高的磁芯損耗和交流繞組損耗就是罪魁禍首。在 100-kHz 開關(guān)頻率下，一般不會出現(xiàn)任何問題，這是因為磁芯損耗約占總電感損耗的 5% 到 10%。因此，相應(yīng)的溫升才是問題所在。 發(fā)表于：2012/2/7 【視頻】電源設(shè)計小貼士11-12：解決電源電路損耗問題 您是否曾詳細計算過設(shè)計中的預(yù)計組件損耗，結(jié)果卻發(fā)現(xiàn)與實驗室測量結(jié)果有較大出入呢？本電源設(shè)計小貼士介紹了一種簡便方法，以幫助您消除計算結(jié)果與實際測量結(jié)果之間的差異。 發(fā)表于：2012/2/7 ?…55565758596061626364…?
