羅德與施瓦茨全新推出的R&S RT-ZP1X無源1:1探頭，拓展了R&S 示波器的應用范圍。探頭與示波器的前端均擁有極小的噪聲，兩者結合使其成為測量低至1 mV/div小信號的理想設備，如集成電路和元器件的電源完整性測試。

　　2016年11月4日，慕尼黑—當前，用戶對供電電源測試的要求顯著提升。特別是在嵌入式設計領域，設計人員通過集成越來越多的功能模塊到極小的空間，進而降低系統(tǒng)功耗。電源完整性測試在此類應用中變得不可或缺。工程師需要測量電路中毫伏級別的信號，從而研究元器件的噪聲特性。為了獲得有意義的測量結果，一款具有合適靈敏度、低噪聲的探頭是必不可少的。

　　Active, passive and current probes for Rohde & Schwarz oscilloscopes cover a variety of power electronics applications.

　　新的R&S RT-ZP1X無源1:1探頭精確地匹配R&S RTE系列示波器（高至2 GHz帶寬）與R&S RTO1000/2000系列示波器（高至4 GHz帶寬）。該探頭配合R&S RTE系列示波器，提供了面向電源完整性市場最高性價比的解決方案。即使在1 MΩ輸入阻抗情況下，示波器的低噪聲前端可以實現(xiàn)低于650 μVpp的底噪 （1mV/div,200MHz帶寬）。而一般示波器僅能在50 Ω輸入阻抗下才能達到該等級的噪聲值。

　　得益于高達每秒一百萬次的波形捕獲率，用戶可以快速獲得測量結果，完成直方圖和其他信號分析。16Bit高分辨模式（HD Mode）可以幫助用戶在最小的信號細節(jié)上進行觸發(fā)與分析。

　　R&S RTE/RTO系列示波器基于硬件DDC的快速傅立葉變換（FFT）實現(xiàn)了準實時頻譜分析，方便用戶查找耦合的干擾信號。獨特的區(qū)域觸發(fā)功能可以幫助用戶在時域和頻域直觀地通過圖形化設置分離異常事件，發(fā)現(xiàn)信號的違規(guī)狀態(tài)。

　　R&S RT-ZP1X無源1:1探頭也可支持R&S RTM系列和HMO系列示波器。