《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁(yè) > MEMS|傳感技術(shù) > 解決方案 > 無(wú)磁芯霍爾效應(yīng)電流傳感器 IC的共模場(chǎng)抑制技術(shù)

無(wú)磁芯霍爾效應(yīng)電流傳感器 IC的共模場(chǎng)抑制技術(shù)

Alexander Latham(Allegro MicroSystems,LLC)
2017-01-10

摘  要: 利用霍爾效應(yīng)可以測(cè)量集成載流回路產(chǎn)生的磁場(chǎng),這種技術(shù)有許多優(yōu)勢(shì)。如果不使用磁芯會(huì)產(chǎn)生一些問(wèn)題,那就是傳感器 IC 容易受到雜散磁場(chǎng)的影響,霍爾板會(huì)出現(xiàn)高電流載流體或螺線管產(chǎn)生的雜散場(chǎng),進(jìn)而可能在測(cè)量電流時(shí)產(chǎn)生誤差。解決這一問(wèn)題的根本方案是集成式差分電流傳感技術(shù)。集成式差分電流傳感可使雜散磁場(chǎng)產(chǎn)生的誤差降低一到兩個(gè)數(shù)量級(jí)。這樣,此類(lèi)傳感器 IC 的用戶(hù)就不必再擔(dān)心雜散場(chǎng)干擾電流的測(cè)量,而且能簡(jiǎn)化 PCB 布局。
       關(guān)鍵詞: 霍爾效應(yīng);電流傳感器;差分電流傳感;共模場(chǎng)抑制;雜散磁場(chǎng)
1 技術(shù)背景
       Allegro電流傳感器IC利用霍爾效應(yīng)測(cè)量集成載流回路產(chǎn)生的磁場(chǎng),并能將磁場(chǎng)轉(zhuǎn)換成與電流成正比的電壓。這種技術(shù)有許多優(yōu)勢(shì),包括電流隔離、低功率損耗和不同溫度下的高精度。這種技術(shù)不使用磁芯來(lái)集中磁場(chǎng),因而其磁滯幾乎為零。但不使用磁芯也有缺點(diǎn),那就是傳感器IC容易受到雜散磁場(chǎng)的影響。使用磁芯時(shí),可使雜散磁場(chǎng)在傳感器IC周?chē)至?,因?yàn)榇判驹趥鞲衅鱅C周?chē)峁┝艘粋€(gè)低磁阻通路。不使用濾芯時(shí),霍爾板會(huì)出現(xiàn)高電流載流體或螺線管產(chǎn)生的雜散場(chǎng),進(jìn)而可能在測(cè)量電流時(shí)產(chǎn)生誤差。正確的電路板和系統(tǒng)設(shè)計(jì)能在電流測(cè)量時(shí)消除這些誤差來(lái)源;但經(jīng)優(yōu)化的線跡布局也可能限制PCB和系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。針對(duì)該問(wèn)題的解決方案是集成式差分電流傳感技術(shù)。ACS724集成式電流傳感器IC如圖1所示。

201608b-jsqyt1.jpg

圖 1  ACS724集成式電流傳感器IC

2 差分電流傳感的原理
       差分電流傳感的基本原理是載流導(dǎo)體的兩側(cè)產(chǎn)生的磁場(chǎng)具有相反的極性。這就是說(shuō),當(dāng)使用圖2所示的載流引腳框時(shí),霍爾板1(H1)會(huì)出現(xiàn)所示電流產(chǎn)生的范圍外磁場(chǎng),霍爾板2(H2)會(huì)出現(xiàn)所示電流產(chǎn)生的范圍內(nèi)磁場(chǎng)。當(dāng)電流傳感器IC上存在共模場(chǎng)時(shí),兩個(gè)霍爾板會(huì)出現(xiàn)相同的磁場(chǎng)。通過(guò)減去兩個(gè)霍爾板的輸出,我們能抑制這些在外部產(chǎn)生的磁場(chǎng)。差分電流傳感器IC的輸出如式(1)所示:
       VOUT=G×(B1-B2)                                   (1)
       其中,B1表示H1的磁場(chǎng),B2表示 H2的磁場(chǎng),G表示傳感器IC的增益(單位:mV/G)。如果有電流通過(guò)引腳框(I),并且傳感器IC(BC)上存在共模場(chǎng),則差分傳感器IC的輸出為:
       VOUT=G×([C1×I+BC]-[-C2×I+BC])        (2)
       其中,C1表示H1的耦合因數(shù)(單位:G/A),C2表示H2的耦合因數(shù)(單位:G/A)。簡(jiǎn)化該等式后可得出:
       VOUT=G×I×(C1+C2)                               (3)
       共模場(chǎng)(BC)抵消,輸出信號(hào)只與通過(guò)傳感器IC的電流成正比。同樣,由于霍爾板只能測(cè)量一種尺寸的磁場(chǎng),所以傳感器IC會(huì)忽略其他平面內(nèi)的外部磁場(chǎng)。

201608b-jsqyt2.jpg

圖 2  采用差分霍爾板配置的集成式
電流傳感器IC引腳框

3 差分電流傳感的限制因素
       差分電流傳感的抑制能力有兩種主要限制:
       (1)霍爾板匹配:在共模場(chǎng)的作用下,兩個(gè)霍爾板的不匹配會(huì)使差分傳感器IC的輸出產(chǎn)生一些變化。Allegro電流傳感器IC是單片器件,所以?xún)蓚€(gè)霍爾板都在相同的芯片上,從而能產(chǎn)生名義上和超溫狀態(tài)下的高度匹配。單晶片上的霍爾板匹配通常高于1%。
       (2)場(chǎng)梯度:如果通過(guò)兩個(gè)霍爾板的外部干擾磁場(chǎng)不均勻,干擾磁場(chǎng)的差別就會(huì)傳播到傳感器IC的輸出。要應(yīng)對(duì)這種限制,可將兩個(gè)霍爾板盡可能靠近放置,同時(shí)使其位于導(dǎo)體的另一側(cè)。
4 均勻外部磁場(chǎng)的共模抑制
       霍爾板在晶片上的匹配通常約為1%,這會(huì)將共模場(chǎng)的抑制限定在40 dB左右。在此均勻外部磁場(chǎng)(BC)的作用下,傳感器IC的輸出誤差(單位:A)為:
CN_F4305G~9T1{1_$G~NAUQ.png      

       其中CF表示通過(guò)傳感器IC流向霍爾板的電流的耦合因數(shù)(單位:G/A),它等于以上C1+C2之和。大多數(shù)Allegro集成式電流傳感器IC的耦合因數(shù)約為10~15 G/A,這會(huì)產(chǎn)生圖3所示的輸出誤差(單位:A)與外部磁場(chǎng)的比例關(guān)系。為便于理解怎樣產(chǎn)生這類(lèi)磁場(chǎng),我們?cè)诰嚯x傳感器IC僅10 mm的導(dǎo)線內(nèi)接通50 A電流,即可在傳感器IC上產(chǎn)生10 G的磁場(chǎng)?;魻柊宓钠ヅ錇?%時(shí),由于該磁場(chǎng)的存在,傳感器IC的輸出只會(huì)產(chǎn)生約10 mA的誤差,相比之下,未采用共模場(chǎng)抑制時(shí),會(huì)產(chǎn)生1 A的誤差。

201608b-jsqyt3.jpg

圖3  兩個(gè)霍爾板1%不匹配時(shí)的
誤差(單位:A)與共模場(chǎng)的對(duì)比CF=10 G/A

5 對(duì)鄰近載流導(dǎo)體產(chǎn)生的磁場(chǎng)進(jìn)行共模抑制
       在電流傳感器IC應(yīng)用中,最常見(jiàn)的一種干擾磁場(chǎng)是鄰近載流導(dǎo)體。這些可能是其他相位或接地回路。載流導(dǎo)體產(chǎn)生的磁場(chǎng)可能在兩個(gè)霍爾板上產(chǎn)生不均勻場(chǎng),具體取決于電流的方向。最壞的情況是電流方向與兩個(gè)霍爾板垂直,如圖4所示。

201608b-jsqyt4.jpg

圖4  與兩個(gè)霍爾板垂直的外部電流

       在此情況下,H1和H2的磁場(chǎng)為:
_P{RSBXOX98P5MNF1BV3`[O.png       當(dāng)

        只使用一個(gè)霍爾板時(shí),B1是所產(chǎn)生的磁場(chǎng)。當(dāng)使用差分配置時(shí),可使兩個(gè)霍爾板(B1和B2)的磁場(chǎng)相減,從而可得出:
79A([KD1DBCUTH`R0BZIESV.png      

       用這些磁場(chǎng)除以耦合因數(shù)CF(~10 to 15 G/A),可將這些干擾磁場(chǎng)轉(zhuǎn)換為誤差(單位:A)。圖5顯示了只使用一個(gè)霍爾板時(shí)的誤差與距離的關(guān)系。

201608b-jsqyt5.jpg

圖5  單獨(dú)霍爾傳感的載流導(dǎo)線的
誤差(A)與距離的關(guān)系(d為0.8 mm)

201608b-jsqyt6.jpg

圖6  當(dāng)電流方向與霍爾板
垂直時(shí)(d為0.8 mm),差分傳感的
載流導(dǎo)線的誤差(A)與距離的關(guān)系

       圖6顯示了使用差分配置時(shí)的誤差。圖7顯示了單獨(dú)霍爾配置與差分霍爾配置之間的抑制比(單位:dB)。值得注意的關(guān)鍵點(diǎn)是在10X抑制時(shí),抑制比為-20 dB,30X抑制時(shí),抑制比為-30 dB。這些點(diǎn)取決于D和d的比率,如圖8所示。圖8中的所有D和d值保持不變,也就是說(shuō),減少霍爾板之間的距離,并增加霍爾板到外部載流導(dǎo)線的距離,會(huì)減少測(cè)量值的誤差量。大多數(shù)Allegro集成式電流傳感器IC的霍爾間距(d)約為0.6~1 mm。

201608b-jsqyt7.jpg

圖7  在外部導(dǎo)線與傳感器IC的距離內(nèi),
單獨(dú)霍爾配置與差分霍爾配置的抑制比。
外部導(dǎo)線的電流方向與兩個(gè)霍爾板垂直。
d為0.8 mm

201608b-jsqyt8.jpg

圖8  在外部導(dǎo)線與磁傳感器IC的
相對(duì)距離內(nèi),單獨(dú)霍爾配置與差分
霍爾配置的抑制比(D/d) 。外部導(dǎo)線的
電流方向與兩個(gè)霍爾板垂直

       當(dāng)鄰近載流導(dǎo)體的電流方向與兩個(gè)霍爾板平行時(shí),會(huì)在兩個(gè)霍爾板上產(chǎn)生相同的磁場(chǎng)。這是理論上抑制無(wú)限的理想情況。其中,抑制的限制因素是霍爾板的匹配,如上所述。當(dāng)然,介于最壞情況(垂直配置)和理想情況(平行配置)之間的所有情況都可能出現(xiàn)。如圖9所示,干擾磁場(chǎng)的計(jì)算方法如式(7):
~C7MC6V%Y~E7}67D4_A{R6E.png

6 試驗(yàn)數(shù)據(jù)
       利用差分電流傳感的ACS724電流傳感器IC可用于驗(yàn)證本文所述的分析。進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),可將載流導(dǎo)線放在傳感器IC附近,并使其與霍爾板垂直,然后以不同的距離和電流強(qiáng)度測(cè)量傳感器IC輸出的變化。為估算誤差,ACS724采用的主要參數(shù)包括:

201608b-jsqyt9.jpg

圖9  鄰近電流產(chǎn)生的離角磁場(chǎng)

       (1)霍爾板之間的距離(d)為0.7 mm。
       (2)與一個(gè)霍爾板的耦合是11 G/A,與另一個(gè)霍爾板的耦合是2.8 G/A,所以總耦合因數(shù)(CF)是13.8 G/A。
       因此估計(jì)誤差(A)是:
)C{M7WCKA_(NSWR9HB$@1JH.png

201608b-jsqyt10.jpg

圖10  差分霍爾傳感載流導(dǎo)線
估計(jì)誤差(A)與距離的關(guān)系

       圖10中的虛線表示使用此公式計(jì)算的估計(jì)誤差,圖中的點(diǎn)表示測(cè)量值。總之,試驗(yàn)數(shù)據(jù)與計(jì)算誤差比較匹配。測(cè)量誤差可能略小于計(jì)算誤差,因?yàn)猷徑鼘?dǎo)線未與霍爾板在同一平面,從而使傳感器IC上的磁場(chǎng)減弱。
7 結(jié)論
       總之,集成式差分電流傳感使雜散磁場(chǎng)產(chǎn)生的誤差降低了一到兩個(gè)數(shù)量級(jí)。這樣,此類(lèi)傳感器IC的用戶(hù)就不必再擔(dān)心雜散場(chǎng)干擾電流的測(cè)量,而且能簡(jiǎn)化PCB布局,并使用外形更精巧的系統(tǒng)。對(duì)于采用載流線跡或磁場(chǎng)發(fā)生器件(如螺線管)的高度壓縮系統(tǒng),可采用本文的分析,以快速估算這些雜散場(chǎng)產(chǎn)生的誤差量。這樣設(shè)計(jì)人員就能預(yù)見(jiàn)和改正可能在系統(tǒng)內(nèi)引入過(guò)大誤差的系統(tǒng)配置或 PCB 布局,從而顯著減少設(shè)計(jì)迭代的次數(shù)。
參考文獻(xiàn)
[1] R S.Popovic.霍爾效應(yīng)器件,第二版.IoP Publishing Ltd.,2004.
[2] DC and Transient Current CapabilityCharacteristics.http://www.allegromi-cro.com/en/Design-Center/Techni-cal-Documents/Hall-Effect-Sensor-IC-Publications/DC-and-Transient-Current-Capability-Fuse-Character-istics.aspx.
[3] Hysteresis Mitigation in Current Sen-sor ICs Using Ferromagnetic Cores.
     http://www.allegromicro.com/en/De-sign-Center/Technical-Documents/Hall-Effect-Sensor-IC-Publications/Hysteresis-Mitigation-in-Current-Sensor-ICs-Using-Ferromagnetic-Cores.aspx.
[4] Allegro ACS724 Datasheet.http://www.allegromicro.com/~/media/Files/Datasheets/ACS724-Datasheet.ashx.
[5] Juan Manuel Cesaretti.Mechanical Stress and Stress Compensation in Hall Sensors. Georgia Institute of Technology,2008.https://smartech.gatech.edu/bitstream/handle/1853/28202/cesaretti_juan_m_200805_mast.pdf.

本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn)。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無(wú)法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問(wèn)題,請(qǐng)及時(shí)通過(guò)電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟(jì)損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。