頭條 美國FCC將禁止信通院等10家中國實驗室測試美國電子產(chǎn)品 剛剛，美國政府對中國電子實驗室機構出手。9月9日消息，美國聯(lián)邦通信委員會（FCC）今天發(fā)布通知，開始撤銷對第一批7家中國所謂“不良實驗室”（Bad Labs）機構的認證許可。同時，F(xiàn)CC表示，其對四家中國實驗室已經(jīng)到期的認證采取不續(xù)簽方式。 最新資訊 面向USB3.0的新型ESD防護設計 1996年，家喻戶曉的通用串行接口(USB1.0)初次問世，它可以支持低速(LS)模式和全速(FS)模式，分別提供1.5Mbps和12Mbps的速率。2000年，USB2.0面市，其新的高速(HS)模式可提供高達480Mbps的速率，并且依然向下兼容。 發(fā)表于：12/7/2010 傳感器在機械制造中的應用 在機械制造中，傳感器技術是實現(xiàn)測試與自動控制的重要環(huán)節(jié)。在機械制造測試系統(tǒng)中，被作為一次儀表定位，其主要特征是能準確傳遞和檢測出某一形態(tài)的信息，并將其轉換成另一形態(tài)的信息。具體地說，傳感器是指那些對被測對象的某一確定的信息具有感受（或響應）與檢出功能，并使之按照一定規(guī)律轉換成與之對應的可輸出信號的元器件或裝置。 發(fā)表于：12/6/2010 基于鉑電阻的數(shù)字溫度測量系統(tǒng)設計 在某企業(yè)開發(fā)的加工控制系統(tǒng)中，溫度范圍是-100℃～600℃，測量誤差小于1％。針對本系統(tǒng)所需的溫度測量要求，選用了精度高的鉑電阻作為溫度傳感器，模數(shù)轉換使用 MSP430F149內(nèi)部的12位分辨率的ADC模塊。 發(fā)表于：12/6/2010 抖動測量的基本原理 當Altera開始開發(fā)自己的40nmStratixIVFPGA時，該公司的工程師在設計與測試前沿的很多方面都面臨挑戰(zhàn)。用Altera首席架構師兼著名工程師MikePengLi博士的話說，建立40nm器件的動力是要充分利用摩爾定律所表述的技術真理，以在每只芯片中裝入更多的邏輯、存儲器和接口。 發(fā)表于：12/6/2010 超聲波測距系統(tǒng)的設計 超聲波是一種頻率在20KHz以上的機械波，在空氣中的傳播速度約為340 m／s(20°C時)。超聲波可由超聲波傳感器產(chǎn)生，常用的超聲波傳感器兩大類：一類是采用電氣方式產(chǎn)生超聲波，一類是用機械方式產(chǎn)生超聲波，目前較為常用的是壓電式超聲波傳感器。 發(fā)表于：12/6/2010 HSPA+終端測試概述和方案介紹 當前，為了提高下行和上行分組數(shù)據(jù)的速率和容量，已經(jīng)在全球范圍內(nèi)大規(guī)模地部署UMTS高速下行分組接入（HSDPA）和高速上行分組接入（HSUPA）網(wǎng)絡。 發(fā)表于：12/6/2010 測試3G手機的DigRF DigRF準備替換RF與基帶半導體器件之間的兩種主要形式的數(shù)據(jù)通信路徑：模擬信令，以及針對具體設計的私有數(shù)字信令（并行或串行）。MIPI（移動業(yè)處理器接口）聯(lián)盟正在致力于采用DigRF（數(shù)字射頻）標準，用一種基于分組的公共數(shù)字串行接口代替各種類型的I/Q（同相位/正交相位）信令接口。 發(fā)表于：12/6/2010 藥片包裝缺損檢測系統(tǒng)中機器視覺技術應用 介紹了機器視覺的概念及基于機器視覺技術的藥片包裝缺損檢測系統(tǒng)，并給出了系統(tǒng)的硬件組成、控制系統(tǒng)軟件模塊結構及其工作過程。 發(fā)表于：12/6/2010 基于CAN總線的信息采集系統(tǒng)設計 為解決某型衛(wèi)星信息采集系統(tǒng)中陀螺組合數(shù)據(jù)等的實時通訊問題，提出了利用CAN總線實現(xiàn)整個信息采集系統(tǒng)設計。與一般信息采集系統(tǒng)相比，該系統(tǒng)下位機采用TMS320F2812型DSP，利用其eCAN模塊作為數(shù)據(jù)發(fā)送模塊，上位機采用工控機，其中ADLINK PCI／cPCI-7841 CAN總線接口卡作為數(shù)據(jù)接收模塊，并在工控機中實時處理接收到的數(shù)據(jù)，更可靠地完成了信息采集及實時監(jiān)測。實驗結果表明，該系統(tǒng)信息采集實時性強、準確穩(wěn)定。 發(fā)表于：12/6/2010 圖像識別技術在印刷線路板精密測試中的應用 隨著信息產(chǎn)業(yè)和電子技術的發(fā)展，PCB(PrintedCircuit Board)線路板的制造技術得到了發(fā)展。傳統(tǒng)光學顯微鏡目測法由于其自身缺陷已不能適用于PCB板的精密檢測?；趫D像識別的精密檢測是現(xiàn)代測量技術的發(fā)展方向。 發(fā)表于：12/6/2010 ?…537538539540541542543544545546…?
