一种面向SRAM型FPGA的三模冗余分区自修复方法研究
所屬分類：技术论文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>539 K
標(biāo)簽： 单粒子效应 FPGA 三模冗余分区
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文檔介紹：SRAM型FPGA的低成本及其现场可编程性使其在航空航天工业中很受欢迎。为解决FPGA受宇宙辐射引起的单粒子效应(Single Event Effect，SEE)，常使用三模冗余(Triple Modular Redundancy，TMR)这一缓解技术。该技术通常与配置刷新技术一起用来加固基于SRAM的FPGA。传统的TMR只能针对单个故障提供一次保护，而将三模冗余结构进行分区可以增强其环境适应性。研究了一种将配置刷新和分区三模冗余结合的方法，并采用PRISM工具进行模型验证，结果表明该方法可以增强系统的可用性。
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