集成電路測(cè)試 相關(guān)文章(9篇)
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淺析IC測(cè)試開發(fā)流程及量產(chǎn)數(shù)據(jù)對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的影響
發(fā)表于：12/23/2016 3:06:00 PM
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大港股份10.8億并購(gòu)艾科半導(dǎo)體
發(fā)表于：12/15/2015 9:31:00 AM
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基于計(jì)數(shù)器的隨機(jī)單輸入跳變測(cè)試序列生成
發(fā)表于：9/1/2010 3:56:12 AM
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安捷倫科技推出可實(shí)現(xiàn)更好信號(hào)完整性的 12 GHz 差分晶圓探測(cè)解決方案
發(fā)表于：2/23/2010 12:00:00 AM
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新中國(guó)60年電子技術(shù)發(fā)展軌跡
發(fā)表于：9/25/2009 12:00:00 AM
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中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
發(fā)表于：9/18/2009 2:30:40 PM
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首屆集成電路測(cè)試技術(shù)論壇在京成功召開
發(fā)表于：9/2/2008 1:58:17 PM
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首屆集成電路測(cè)試技術(shù)論壇在京成功召開
發(fā)表于：9/2/2008 1:58:17 PM
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東方集成與蘇州工業(yè)園合作，建立“集成電路研發(fā)與生產(chǎn)相關(guān)測(cè)試儀器設(shè)備租賃服務(wù)中心”
發(fā)表于：12/28/2007 2:41:25 PM
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