內(nèi)容簡介：隨著半導(dǎo)體射頻微波器件的性能不斷提升，在片測試及T/R組件等典型應(yīng)用的測試指標及要求也日趨復(fù)雜，不僅追求測試穩(wěn)定性和規(guī)?；?，更需要優(yōu)化測試步驟提升效率。針對于射頻微波器件的全參數(shù)一體化測試需求，羅德與施瓦茨高端ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀針對典型應(yīng)用如放大器測試、變頻測試、脈沖測試以及頻譜分析等提供專業(yè)一體化測試解決方案。