中國(guó)北京，2011年5月25日---全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商--泰克公司日前宣布，其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評(píng)獎(jiǎng)活動(dòng)中榮獲“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”（Best in Test Award）。

    在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會(huì)”（Embedded Systems Conference）舉行期間進(jìn)行的頒獎(jiǎng)儀式上，TLA7SA00系列邏輯分析儀被授予“總線(xiàn)分析儀”類(lèi)別的最佳產(chǎn)品獎(jiǎng)。“最佳測(cè)試”獎(jiǎng)分16個(gè)類(lèi)別。參加2011年“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”評(píng)選的產(chǎn)品或服務(wù)必須是在2009年11月1日至2010年10月31日之間推出的產(chǎn)品或服務(wù)。

    “我們?cè)俅螌?duì)各廠商提名的許多出色產(chǎn)品進(jìn)行了評(píng)審”，UBM Electronics旗下雜志《Test & Measurement World》的編輯部主任Rick Nelson表示，“我們向泰克公司取得這一成就表示祝賀。”

    TLA7SA00系列是泰克去年四月推出的綜合性PCI Express 1.0/2.0/3.0測(cè)試解決方案，集協(xié)議分析與物理分析于一體。該解決方案包括TLA7SA16和TLA7SA08邏輯協(xié)議分析儀模塊、總線(xiàn)支持軟件及探頭，為PCIe開(kāi)發(fā)者了解系統(tǒng)行為提供了獨(dú)一無(wú)二的時(shí)間相關(guān)視圖，從協(xié)議分析開(kāi)始一直到物理層分析，幫助查找棘手問(wèn)題的根本原因。

    “總線(xiàn)速度及復(fù)雜性一代勝過(guò)一代，我們意識(shí)到需要有一種將協(xié)議、邏輯及物理分析結(jié)合起來(lái)的新解決方案，以便更有效地確定棘手軟硬件問(wèn)題的原因”，泰克公司邏輯分析產(chǎn)品線(xiàn)總經(jīng)理Dave Farrell表示，“TLA7SA00系列榮獲最佳測(cè)試獎(jiǎng)是對(duì)我們基于‘客戶(hù)第一’原則的肯定，這一原則始終貫穿在我們重新定義總線(xiàn)分析測(cè)試儀的過(guò)程中。”

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