頭條 全球首款主動(dòng)安全AI電芯量產(chǎn) 7 月 27 日消息，7 月 23 日，德賽電池主動(dòng)安全電芯?系統(tǒng)量產(chǎn)全球發(fā)布會(huì)在湖南長(zhǎng)沙召開(kāi)，此次發(fā)布會(huì)推出主動(dòng)安全 AI 電芯和主動(dòng)安全儲(chǔ)能系統(tǒng)解決方案。據(jù)悉，這也是全球首款主動(dòng)安全 AI 電芯量產(chǎn)。 最新資訊 開(kāi)關(guān)電源中功率MOSFET管損壞模式及分析 結(jié)合功率MOSFET管不同的失效形態(tài)，論述了功率MOSFET管分別在過(guò)電流和過(guò)電壓條件下?lián)p壞的模式，并說(shuō)明了產(chǎn)生這樣的損壞形態(tài)的原因，也分析了功率MOSFET管在關(guān)斷及開(kāi)通過(guò)程中發(fā)生失效形態(tài)的差別，從而為失效在關(guān)斷或在開(kāi)通過(guò)程中發(fā)生損壞提供了判斷依據(jù)。給出了測(cè)試過(guò)電流和過(guò)電壓的電路圖。同時(shí)分析了功率MOSFET管在動(dòng)態(tài)老化測(cè)試中慢速開(kāi)通、在電池保護(hù)電路應(yīng)用中慢速關(guān)斷及較長(zhǎng)時(shí)間工作在線性區(qū)時(shí)損壞的形態(tài)。最后，結(jié)合實(shí)際應(yīng)用，論述了功率MOSFET通常會(huì)產(chǎn)生過(guò)電流和過(guò)電壓二種混合損壞方式損壞機(jī)理和過(guò)程。 發(fā)表于：4/22/2013 電傳動(dòng)車(chē)輛用高功率鋰離子電池性能分析研究 為研究功率型鋰離子電池性能，對(duì)某35 Ah功率型鋰離子電池單體進(jìn)行了充放電特性試驗(yàn)和分析，由此獲得功率型電池在不同溫度和不同倍率下的充放電特性、內(nèi)阻特性和溫升特性。研究結(jié)果表明，低溫下電池的充放電內(nèi)阻較大，充放電性能衰減顯著；常溫下電池的內(nèi)阻較小，充放電溫升較小，大電流充放電的容量穩(wěn)定性好，質(zhì)量比能量高，作為電傳動(dòng)車(chē)輛主要或輔助動(dòng)力源具有良好的應(yīng)用前景。 發(fā)表于：4/22/2013 基于ECL邏輯器件的高頻相移信號(hào)發(fā)生電路 提出了一種基于脈沖抑制原理的可編程ECL邏輯器件的高頻相移信號(hào)發(fā)生電路。給出了輸出相移量為2π/32的20 MHz信號(hào)的頻率穩(wěn)定性測(cè)試實(shí)驗(yàn)結(jié)果，對(duì)于1 s～10 000 s的積分時(shí)間，艾倫標(biāo)準(zhǔn)方差值σy(τ)<10-9。該電路具有電路設(shè)計(jì)原理簡(jiǎn)單、可復(fù)制性強(qiáng)、電路體積小、成本低等優(yōu)點(diǎn)。 發(fā)表于：4/22/2013 基于嵌入式微處理器的電能收集充電器方案 本文針對(duì)鋰離子可充電池的充放電特性及實(shí)際使用中的需求，利用新型的嵌入式芯片LM3S1138為主控制器，在鋰離子電池充電的過(guò)程中，進(jìn)行智能控制，嚴(yán)格控制充電電流、電壓、溫度等物理參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)數(shù)字化、智能化、節(jié)能化的特點(diǎn)。 發(fā)表于：4/19/2013 薄膜和晶體硅太陽(yáng)能電池板的區(qū)別 如果來(lái)源可靠的話，是法國(guó)物理學(xué)家貝克勒爾（Alexandre-Edmond Becquerel） 在1839年無(wú)意中在放置在光線下的導(dǎo)電液體中操作電極，從而發(fā)現(xiàn)了光伏作用。美國(guó)發(fā)明家Charles Fritts在1883年左右首次制備了光伏太陽(yáng)能電池。他的方法是在在硒表面鍍上一層薄薄的金，制成的電池的最高效率只有不到1%。當(dāng)然硒和金的成本很高，這讓他的成就打了一些折扣。 發(fā)表于：4/19/2013 如何解決驅(qū)動(dòng)單元設(shè)計(jì)中的電磁兼容問(wèn)題 電磁干擾一般通過(guò)空間輻射和通過(guò)導(dǎo)線傳導(dǎo)，在工程領(lǐng)域一直是人們要解決的難題和研究熱點(diǎn)。驅(qū)動(dòng)單元作為大功率模塊，其中的放大電路、開(kāi)關(guān)電路和逆變電路等主電路可能對(duì)電磁環(huán)境存在干擾，所以在驅(qū)動(dòng)單元設(shè)計(jì)中就必須完善解決電磁兼容問(wèn)題。 發(fā)表于：4/19/2013 LED燈驅(qū)動(dòng)電源的幾條實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn) 近年來(lái)LED燈封裝技術(shù)和散熱技術(shù)的不斷發(fā)展，LED燈的穩(wěn)定性已經(jīng)達(dá)到比較好的水平，發(fā)生光衰和色漂移的主要是些山寨廠家的產(chǎn)品，主要原因是散熱設(shè)計(jì)的不合理。相對(duì)來(lái)說(shuō)LED燈驅(qū)動(dòng)電源的問(wèn)題要嚴(yán)重的多，是導(dǎo)致死燈或者閃爍的主要原因，也就是說(shuō)，LED燈驅(qū)動(dòng)電源已經(jīng)成為L(zhǎng)ED燈質(zhì)量的短板，根據(jù)木桶理論，LED燈驅(qū)動(dòng)電源的壽命就是LED燈的壽命。 發(fā)表于：4/19/2013 電子元器件失效分析技術(shù) 電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心， 電子元器件是發(fā)展電子信息技術(shù)的基礎(chǔ)。了解造成元器件失效的因素，以提高可靠性， 是電子信息技術(shù)應(yīng)用的必要保證。 發(fā)表于：4/19/2013 LED驅(qū)動(dòng)電源拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)選擇 LED 的高可靠性（使用 壽命超過(guò) 50,000 個(gè)小時(shí)）、較高的效率（>120 流明/瓦）以及近乎瞬時(shí)的響應(yīng)能力使其成為極具吸引力的光源。與白熾燈泡 200mS 的響應(yīng)時(shí)間相比，LED 會(huì)在短短 5nS 響應(yīng)時(shí)間內(nèi)發(fā)光。因此，目前它們已在汽車(chē)行業(yè)的剎車(chē)燈中得到廣泛采用。 發(fā)表于：4/19/2013 新型電動(dòng)汽車(chē)鋰電池管理系統(tǒng)的研究與實(shí)現(xiàn) 理系統(tǒng)的調(diào)試分為各種功能模板的調(diào)試，軟件功能調(diào)試及系統(tǒng)的整體調(diào)試。系統(tǒng)運(yùn)行正常后，再對(duì)電流、電壓、溫度等精度進(jìn)行校準(zhǔn)。 發(fā)表于：4/19/2013 ?…893894895896897898899900901902…?
