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高集成度多標記光刻版版圖的快速處理技術[其他][其他]

介紹了一種高集成度多標記光刻版版圖的快速處理技術。其中包括以下四個模塊： chip芯片排布模塊、標記排布模塊、芯粒數(shù)統(tǒng)計模塊和自動版號模塊。在版圖編輯工具L-edit中使用這些模塊可以大幅提升微光刻中的高集成度多標記光刻版版圖的排布效率并提高準確度，從而有效縮短掩膜版的生產(chǎn)周期。

發(fā)表于：9/19/2022

一種改進型高速1553B總線發(fā)送器斜率控制電路[其他][其他]

傳統(tǒng)的1553B總線通信速率為1 Mb/s，難以滿足目前電子設備對通信總線高速率的要求。設計了一種新型的發(fā)送器斜率控制電路，并應用于高速1553B總線發(fā)送器芯片，提升了發(fā)送器的速率，改善了總線波形質量。測試表明，采用本文設計的改進型1553B總線發(fā)送器，通信速率最高可達4 Mb/s，達到現(xiàn)有標準速率的4倍，性能提升效果顯著。

發(fā)表于：9/19/2022

一種基于MCU芯片的FPGA原型驗證平臺設計[其他][其他]

為了縮短MCU芯片開發(fā)周期，提出了一種基于MCU芯片F(xiàn)PGA原型驗證平臺設計。該設計是將傳統(tǒng)FPGA原型驗證過程中使用FPGA的RAM原型替換程序存儲單元，改為使用FPGA雙端口RAM替換。其中一個端口控制按照傳統(tǒng)的接入方法,另一端口控制信號接到專門的控制邏輯上，獨立控制，而且不影響原MCU芯片功能。該方法不僅節(jié)省多次FPGA綜合實現(xiàn)的時間,而且可以靈活實時監(jiān)測RAM，方便查錯。同時該方法具有通用性，可移植到類似的SoC系統(tǒng)架構FPGA原型驗證系統(tǒng)中去。

發(fā)表于：9/19/2022

基于邊緣計算的局部放電模式識別[其他][其他]

局部放電是設備處于高電場強下，由于電場分布不均而導致的絕緣介質放電現(xiàn)象，設備產(chǎn)生局部放電對于絕緣層的危害很大，迅速檢測識別設備的放電類型是工業(yè)正常運作的保障。針對電氣設備局部放電類型識別問題，考慮到電氣設備監(jiān)測系統(tǒng)在診斷識別方面的時效性及精度，提出了基于邊緣計算的局部放電模式識別方法，利用邊緣計算架構的優(yōu)勢，基于云層訓練、邊緣推理思路，將復雜的識別算法訓練優(yōu)化過程部署在云層，將計算量大的識別算法卸載到邊緣層，而計算量小的特征提取保留在終端設備層處理。通過構造局部放電相位分布譜圖提取局部放電的統(tǒng)計特征參數(shù)，采用粒子群優(yōu)化算法對廣義回歸神經(jīng)網(wǎng)絡模型進行優(yōu)化，最后將統(tǒng)計特征參數(shù)作為神經(jīng)網(wǎng)絡的輸入量，對放電類型進行識別。結果表明，所提模式識別方法識別準確率高，識別效率高。

發(fā)表于：9/19/2022

融合用戶行為和評論文本的圖神經(jīng)網(wǎng)絡推薦[其他][其他]

現(xiàn)有的基于圖神經(jīng)網(wǎng)絡的推薦算法能夠利用圖結構信息使得推薦效果得到較好的提升，但主要的圖結構都是圍繞著用戶和項目的一種交互，卻忽略了用戶的多種行為，如點擊、收藏、分享、加入購物車等都表達著用戶不同的語義；又如評論信息，可能影響著該類型物品的下一次購買意圖。為此提出一種基于用戶行為和評論信息的圖神經(jīng)網(wǎng)絡推薦算法，算法通過圖卷積網(wǎng)絡學習用戶行為的強度及語義，再利用評論文本圖表示學習評論中用戶和商品的偏好，最后進行融合提升推薦效果。實驗結果表明，該算法對于推薦效果有一定的提升。

發(fā)表于：9/19/2022

基于XGBoost與LightGBM集成的電動汽車充電負荷預測模型[其他][汽車電子]

隨著電動汽車規(guī)模化發(fā)展，充電站負荷對電網(wǎng)造成一定影響，為保障電網(wǎng)平穩(wěn)運行，提出一種基于極端梯度提升(eXtreme Gradient Boosting，XGBoost)與輕量級梯度提升機(Light Gradient Boosting Machine，LightGBM)融合的電動汽車充電負荷預測模型。該方法運用Stacking集成學習的策略：首先根據(jù)時間特征與歷史負荷數(shù)據(jù)采用XGBoost與LightGBM算法構建負荷預測的基學習器，然后采用嶺回歸(Ridge Regression，RR)算法將基學習器的輸出結果進行融合之后輸出負荷預測值。為了對比多種不同的負荷預測模型，采用上海市嘉定區(qū)的充電站訂單數(shù)據(jù)進行試驗，結果表明，該方法所構建的負荷預測模型相比單一算法模型具有更高的預測準確度，對電網(wǎng)平穩(wěn)運行有一定理論及實用價值。

發(fā)表于：9/19/2022

中央處理器安全測試與自修復技術研究[其他][其他]

中央處理器在工業(yè)控制領域起到重要作用，其正常工作是工業(yè)控制中的重要穩(wěn)定運行保障。主要研究中央處理器的安全測試與自修復相關技術。從故障注入到故障測試再到自修復，對相關安全技術作了比較介紹與分類總結，包括硬軟件的故障注入技術、掃描鏈、內(nèi)建自測試、TSV等故障測試方法，以及以替代修復和容錯自修復技術。最后提出中央處理器安全協(xié)同模型，對各個技術的基本原理和創(chuàng)新點做出歸納總結，為未來中央處理器的故障處理技術發(fā)展提供安全設計全參考，在保證安全和性能的同時降低成本和能耗，助力工控設備安全穩(wěn)定運行。

發(fā)表于：9/19/2022

《2022芯片與科學法》對我國集成電路產(chǎn)業(yè)的影響和建議[其他][其他]

集成電路是關系國民經(jīng)濟和社會發(fā)展的基礎性、先導性和戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè)。當前，國際環(huán)境日趨復雜，百年變局和世紀疫情相互交織，中美之間持續(xù)升級的大國博弈和不斷深化的利益脫鉤對全球集成電路產(chǎn)業(yè)鏈格局產(chǎn)生了深遠影響。近日美國出臺《2022芯片與科學法》并聯(lián)手日本、韓國等組建“四方芯片聯(lián)盟”，構建“圍堵”中國的“統(tǒng)一戰(zhàn)線”，試圖將中國集成電路產(chǎn)業(yè)孤立在全球供應鏈體系之外。通過梳理美國在科技立法上的歷史沿革和主要特點，以及《2022芯片與科學法》在集成電路領域的最新戰(zhàn)略部署，對由此帶來的全球集成電路產(chǎn)業(yè)格局新變化以及對我國的影響進行研判，并提出相關發(fā)展建議。

發(fā)表于：9/19/2022

基于改進UKF的轉彎機動目標跟蹤算法研究[其他][其他]

針對轉彎率未知或變化條件下的精確跟蹤問題開展研究，給出了基于UKF的自適應協(xié)同轉彎跟蹤算法，該算法充分利用了擴維技術和自適應漸消因子技術，不斷實時估計轉彎率，同時基于漸消因子調節(jié)過程噪聲及其對應的增益，并對不敏卡爾曼濾波算法的采樣范圍進行自適應調節(jié),使采樣點更接近目標真實狀態(tài)。仿真表明該算法在轉彎率變化時獲得了較好的跟蹤性能，有效提升了對于轉彎機動目標跟蹤的準確性和穩(wěn)定性。

發(fā)表于：9/19/2022

存儲系統(tǒng)中L波段射頻直采技術設計與實現(xiàn)[其他][其他]

隨著軍事科技技術的不斷發(fā)展，存儲關鍵敏感數(shù)據(jù)的存儲系統(tǒng)在軍事領域的重要性越來越突顯出來。L波段作為重要的數(shù)據(jù)信號工作頻段，已廣泛運用在衛(wèi)星導航、警戒雷達、通信偵察等領域。介紹了一種基于JESD204B的高速串行總線技術、超低抖動時鐘方案及最新高速ADC實現(xiàn)L波段射頻直采,采樣率可達6 GS/s，SFDR(無雜散動態(tài)范圍)實測可達67 dBFS以上，直采數(shù)據(jù)通過FPGA內(nèi)部進行數(shù)字下變頻后送給存儲單元進行數(shù)據(jù)存儲。

發(fā)表于：9/19/2022

基于信道容量的協(xié)同探測資源聯(lián)合優(yōu)化方法[其他][其他]

針對空間感知中的協(xié)同探測任務，利用探測信道容量作為優(yōu)化目標，對蜂群算法進行改進并實現(xiàn)對集群軌跡與動力的聯(lián)合優(yōu)化。首先構建了多發(fā)多收協(xié)同探測模型，基于信息論的視角，推導出探測模型的信道容量，將其作為優(yōu)化無人集群動力與輻射功率的目標函數(shù)，然后逐個分析并梳理出影響與制約目標函數(shù)的因素，從而明晰了優(yōu)化目標與約束條件。接著針對蜂群算法的不足，改進其搜索策略與參數(shù)優(yōu)化方法。進而構建了基于改機蜂群算法的協(xié)同探測動力優(yōu)化流程。最后通過仿真驗證與算法對比，表明本文算法能夠提升無人機集群協(xié)同探測的感知能力。

發(fā)表于：9/19/2022

有源相控陣雷達均衡技術研究與實現(xiàn)[其他][其他]

對于寬帶有源相控陣雷達，通道失配會影響陣列處理性能，可通過通道均衡技術進行補償?，F(xiàn)有研究大多以仿真模型為基礎，鮮有實測數(shù)據(jù)為支撐，且均衡評價方法過于單一。構建了結合剩余失配特性、脈壓及波束形成方向圖的綜合評價體系，可更加全面地評價均衡效果。此外，以某機載有源相控陣雷達為平臺，工程實驗了150 MHz寬帶信號的頻域均衡算法，并提出矩形窗加權均衡算法，仿真及實測數(shù)據(jù)表明該算法對均衡效果有所提升。

發(fā)表于：9/19/2022

一種修正k值的OS-CFAR檢測器[其他][其他]

OS-CFAR(Ordered Statistics)檢測器的k值存在著取值方法不確定的缺陷?？紤]到實際工程應用中的目標回波信號，在經(jīng)過脈壓匹配濾波器后，輸出是Sa函數(shù)鐘型包絡，因此在選取k值時，可能會發(fā)生背景雜波估計取在干擾目標的能量單元中，使雜波估計偏大導致目標漏檢。提出一種修正k值方法，在OS-CFAR檢測器選擇k值時將目標回波為擴展目標考慮在內(nèi)，令k的取值更加準確。通過詳細的仿真實驗，發(fā)現(xiàn)了參考滑窗內(nèi)有無干擾目標兩種條件下OS-CFAR檢測器性能隨k值變化的不同規(guī)律，并證明修正k值的OS-CFAR檢測器在多目標環(huán)境中有更好的性能。

發(fā)表于：9/19/2022

是德科技面向移動行業(yè)處理器接口推出全新汽車測試解決方案[測試測量][汽車電子]

是德科技公司(NYSE：KEYS)近日宣布，推出新型汽車串行器/解串器(SerDes)接收機(Rx)合規(guī)性測試解決方案，從而根據(jù)合規(guī)性測試規(guī)范(CTS)的要求驗證移動行業(yè)處理器接口(MIPI)A-PHY 器件。

發(fā)表于：9/17/2022

助力提升芯片質量和產(chǎn)量，半導體工藝監(jiān)測中的光譜應用[測試測量][工業(yè)自動化]

根據(jù)檢測工藝所處的環(huán)節(jié)，IC集成電路檢測被分為設計驗證、前道量檢測和后道檢測。前道量測、檢測均會用到光學技術和電子束技術，其中光學量測通過分析光的反射、衍射光譜間接進行測量，其優(yōu)點是速度快、分辨率高、非破壞性。后道檢測工藝是芯片生產(chǎn)線的“質檢員”，根據(jù)工藝在封裝環(huán)節(jié)的前后順序，后道檢測可以分為CP測試和FT測試。

發(fā)表于：9/16/2022